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X射线荧光光谱仪(XRF)
2016-04-12 11:46  

   

生产厂家:荷兰PANalytical B.V.

设备型号:AxiosmAX

主要技术指标

1.元素分析范围:8O - 92U

2.测角仪:直接光学位置传感器(DOPS)定位;范围:0-148°(2θ);精确度:0.0025°(θ/2θ);重复性:0.0001°(θ/2θ).

3.流气式探测器,1μ聚丙烯薄膜计数器窗口。

应用范围

主要用于金属材料、化工原料、地质矿物、商品检验、产品质量控制、宝玉石鉴定、考古和文物鉴定、公安刑侦物证元素分析等。优势在于可以对上述样品局部进行最小到100微米局部范围内元素定性和半定量无损分析。

样品要求

固体、粉末压片、熔珠

地点:D04-113B

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